![]() Bestimmung der Kupfer-Schichtdicke auf Multilayern oder dünnen Laminaten ohne Beeinflussung durch gegenüberliegende Kupferschichten. |
![]() Bestimmung der Mikrohärte von vergoldeten Steckkontakten auf Leiterplatten |
![]() Bestimmung der Dicke von Kupfer- und Lötstopplack-Schichten auf nichtgeätzten oder geätzten Leiterplatten und Bestimmung der Kupferdicke in Bohrungen. |
![]() Bestimmung der Restzinndicke auf chemisch verzinnten Leiterplatten. |
![]() Bestimmung der Dicke von Kupfer-Schichten auf nichtgeätzten oder geätzten Leiterplatten und Bestimmung der Kupferdicke in Bohrungen. |