Spezial-Röntgenfluoreszenz-Messgeräte (XRF) zur Messung und Analyse von Schichtdicke und -zusammensetzung auf kleinsten Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten (PCBs)
Alle Geräte haben eine Aussparung im Gehäuse und eine große Probenauflage. Damit können Sie Leiterplatten und Mehrfach-Nutzen bis zu einer Größe von 610 x 610 mm (24 x 24 in) prüfen. Die Geräte XULM®-PCB und XDLM®-PCB 200 können mit einer Messtisch-Erweiterung aufgerüstet werden, um noch größere Leiterplatten oder Mehrfach-Nutzen zu prüfen.
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB
- Kostengünstiges und robustes Messgerät mit einer festen Blende und einem festen Filter, Mikrofokus-Röntgenröhre, Proportionalzählrohr als Röntgendetektor und fester Probenauflage
- Option: Messtisch-Erweiterung zur Vergrößerung der nutzbaren Proben-Auflagefläche auf 1200 x 630 mm (47 x 24 in)
- Messrichtung von unten nach oben, dadurch einfache Probenpositionierung
Typische Einsatzgebiete
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Analyse des Zusammensetzung von Galvanikbädern
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB 200
- Kostengünstiges und robustes Messgerät mit einer festen Blende und einem festen Filter, Mikrofokus-Röntgenröhre, Proportionalzählrohr als Röntgendetektor und fester Probenauflage
- Option: Messtisch-Erweiterung zur Vergrößerung der nutzbaren Proben-Auflagefläche auf 1200 x 900 mm (47 x 35 in)
- Einfache Positionierung dank Laserpointer und Schubladenfunktion
Typische Einsatzgebiete
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Analyse des Zusammensetzung von Galvanikbädern
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB 210
- Kostengünstiges und robustes Messgerät mit einer festen Blende und einem festen Filter, Mikrofokus-Röntgenröhre und Proportionalzählrohr als Röntgendetektor
- Programmierbarer, motorgetriebener XY-Tisch, maximaler Verfahrweg 450 x 300 mm (17.7 x 11.8 in)
Typische Einsatzgebiete
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Analyse des Zusammensetzung von Galvanikbädern
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB 220
- Sehr vielseitiges Messgerät dank wechselbarer Blenden und Primärfilter
- Mikrofokus-Röntgenröhre und Proportionalzählrohr als Röntgendetektor
- Programmierbarer, motorgetriebener XY-Tisch, maximaler Verfahrweg 450 x 300 mm (17.7 x 11.8 in)
Typische Einsatzgebiete
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Analyse des Zusammensetzung von Galvanikbädern
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ PCB
- Ausgestattet mit Polykapillar-Röntgenoptik zur Messung auf kleinsten Bauteilen
- Messfleck wahlweise ca. Ø 20 μm oder ca. Ø 10 µm fwhm bei Mo-Kα
- Sehr hohe Anregungsintensität und dadurch hohe Präzision sogar bei sehr dünnen Schichten, Messunsunsicherheit < 1 nm möglich
- Programmierbarer, motorgetriebener XY-Tisch, maximaler Verfahrweg 450 x 300 mm (17.7 x 11.8 in)
Typische Einsatzgebiete
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Messung auf kleinsten, flachen Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0.1 μm
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle